2011 Orbotech Ultra Discovery VM

Hersteller: Orbotech Modell: Ultra Discovery VM Baujahr: 2011 Ultra Discovery VM bietet einfache, intelligente und leistungsstarke AOI-Performance mit 10 µm Linien-/Abstandsinspektion Kapazitäten für die FC-BGA-, PBGA-, CSP- und COF-Produktion. Das System liefert gestochen scharfe Bilder, die für die Erfassung feinster Defekte unerlässlich sind, und erzielt hervorragende AOI-Ergebnisse. Mit minimalem Aufwand und ohne Schulungsaufwand, selbst bei komplexen Bedienfeldern. Der größte Teil der wertvollen Zeit, die der Hersteller für das System aufwendet, wird dafür aufgewendet. Der Aufwand für die Überprüfung von Schalttafeln wird reduziert. Logische Fehlalarme werden praktisch eliminiert und die Gesamtanzahl der Fehlalarme minimiert, was Einsparungen ermöglicht. Wertvolle Überprüfungszeit. Vorteile * Hoher Durchsatz und überlegene Erkennung bei minimaler Anzahl von Fehlalarmen * Speziell entwickelt für die Inspektion feinster Linien bis hinunter zu 10 µm * Schnelle Einrichtung selbst für komplexeste Aufgaben für höhere Produktivität * Automatisierungsbereit * Sehr hohe Verfügbarkeit * SIP-Technologie Push-to-Scan: * Ein „konfigurationsfreier“ Prozess * Top-AOI-Ergebnisse mit minimalem Aufwand oder Training * Die einfachste und benutzerfreundlichste Oberfläche (GUI) * Vollständige „Step and Repeat“-Funktionen Visuelle Intelligenz: Mithilfe der SIP-Technologie führt Ultra Discovery VM das Erkennungsparadigma von Orbotech in die Welt der FC-BGA-Feinstrukturierung ein. PBGA/CSP- und COF-Fertigung. Mit der Visual Intelligence Detection Engine, jetzt speziell für IC-Substrate. Anwendungen ermöglichen es Herstellern, nicht länger zwischen Erkennung und Fehlalarmen zu wählen oder Zeit mit unkritischen Dingen zu verschwenden. Defekte. Erstmals in AOI: Erkennen Sie alles, was Sie wollen, und nur das, was Sie wollen. Ultra Discovery VM ist mit einem superschnellen optischen Kopf ausgestattet, der zusammen mit seinem speziellen IC-Substratpanel Das Verständnis dafür ermöglicht einen außergewöhnlich hohen Durchsatz, überlegene Erkennung und niedrige Fehlalarmraten. Der optische Kopf ist Speziell entwickelt für die Inspektion feinster Linien bis hinunter zu 10 µm. Die maßgeschneiderte Profi-Linse mit einzigartigen Eigenschaften Die Weitwinkelbeleuchtung liefert sehr klare Bilder, die für die Erfassung feinster Fehler unerlässlich sind. Visuelle Intelligenz: * Umfassendes Verständnis des Panels, kontextbasierte Erkennungs-Engine * Ausgestattet mit ultraschnellen Sensoren und leistungsstarker Datenverarbeitung für maximale Inspektionsgeschwindigkeit Weitere Informationen finden Sie hier - https://www.ucymachines.com/ [https://www.ucymachines.com/] Kontaktieren Sie uns unter sales@ucymachines.com