2011 Orbotech Ultra Discovery VM

2011 Orbotech Ultra Discovery VM

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Adresse:Munich, Allemagne

Description

Fabricant : Orbotech Modèle : Ultra Discovery VM Année de fabrication : 2011 L'Ultra Discovery VM offre des performances AOI simples, intelligentes et puissantes avec une inspection de lignes/espaces de 10 µm. capacités de production de FC-BGA, PBGA, CSP et COF. Fournissant des images d'une netteté exceptionnelle, essentielles pour la détection des défauts les plus infimes, le système obtient des résultats AOI remarquables. avec un minimum d'efforts et de formation, même sur des panneaux complexes. La majeure partie du temps précieux du fabricant consacré au système est ainsi mise à profit. Les dépenses consacrées à l'inspection des panneaux sont réduites. Les fausses alertes logiques sont pratiquement éliminées et le nombre total de fausses alertes est minimisé, ce qui permet de réaliser des économies. temps précieux pour la vérification. Avantages * Débit élevé et détection supérieure avec un nombre minimal de fausses alertes * Spécialement conçu pour l'inspection des lignes les plus fines, jusqu'à 10 µm * Configuration rapide, même pour les tâches les plus complexes, pour une productivité accrue * Prêt pour l'automatisation * Disponibilité très élevée * Technologie SIP Numérisation par simple pression : * Un processus « sans installation » * Résultats optimaux en matière d'AOI avec un minimum d'effort ou d'entraînement * L'interface utilisateur la plus simple et conviviale (GUI) * Fonctions complètes « Répéter » Intelligence visuelle : Grâce à la technologie SIP, Ultra Discovery VM introduit le paradigme de détection d'Orbotech dans le monde des FC-BGA à lignes fines. Production de PBGA/CSP et de COF. Grâce au moteur de détection d'intelligence visuelle, désormais dédié aux substrats de circuits intégrés. Grâce à ces applications, les fabricants n'ont plus à choisir entre la détection et les fausses alertes, ni à perdre du temps sur des tâches non essentielles. Défauts. Pour la première fois en AOI, détectez tout ce que vous voulez, et seulement ce que vous voulez. L'Ultra Discovery VM est équipée d'une tête optique ultra-rapide, qui, associée à son panneau de substrat de circuit intégré dédié, permet de créer un environnement de test optimal. Grâce à sa capacité de compréhension, il offre un débit exceptionnellement élevé, une détection supérieure et un faible taux de fausses alertes. La tête optique est Spécialement conçu pour l'inspection des lignes les plus fines, jusqu'à 10 µm. L'objectif professionnel personnalisé, doté de caractéristiques uniques L'éclairage grand angle permet d'obtenir des images très nettes, essentielles pour capturer les défauts les plus infimes. Intelligence visuelle : * Moteur de détection contextuelle basé sur la compréhension complète du panneau * Doté de capteurs ultra-rapides et d'un puissant système de traitement des données pour une vitesse d'inspection maximale En savoir plus ici - https://www.ucymachines.com/ [https://www.ucymachines.com/] Contactez-nous à - sales@ucymachines.com

Caractéristiques

FabricantOrbotech
ModèleUltra Discovery VM
Année2011
Conditionutilisé
Numéro de stock757120