2004 Veeco AFM-2 (METV44-1)
2004 Veeco AFM-2 (METV44-1)
Vraag ons om de prijs
Plaats:München, Duitsland
Beschrijving
Atomic Force Microscope (AFM)An Atomic Force Microscope (AFM) measures topography, feature size, defects, and properties of solid surfaces. The Dimension X AFM provides depth metrology solutions.
Specificaties
| Fabrikant | Veeco |
| Model | AFM-2 (METV44-1) |
| Jaar | 2004 |
| Conditie | Gebruikt |
| Voorraad nummer | 757616 |