2004 Veeco AFM-2 (METV44-1)
2004 Veeco AFM-2 (METV44-1)
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位置:慕尼黑, 德国
描述
Atomic Force Microscope (AFM)An Atomic Force Microscope (AFM) measures topography, feature size, defects, and properties of solid surfaces. The Dimension X AFM provides depth metrology solutions.
参数规格
| 制造商 | Veeco |
| 型号 | AFM-2 (METV44-1) |
| Year | 2004 |
| (使用) 状况 | 二手的 |
| 库存编号 | 757616 |